改进电路设计规程提高可测试性

隨着微型化程度不断提高

元件和布线技术也取得巨大发展，

以及导体之间的绝缘间距缩小到

这些仅是其中的两个例子

对以后制作流程Φ的测试能否很好进行，

下面介绍几种重要规则及实

可测试的设计），可以大大减少生产

测试的准备和实施费用这些规程已经过多年發展，当然

若采用新的生产技术和元件技术，

们也要相应的扩展和适应

随着电子产品结构尺寸越来越小，

目前出现了两个特别引人注目的问

题：一是可接触的电路节点越来越少；二是像在线测试（

可以在电路布局上采取相应的措施

采用新的测试方法和采用创新

第二个問题的解决还涉及到使原来作为独立工序使用的测试系统承担附加任

务。这些任务包括通过测试系统对存储器组件进行编程或者实行集成囮的元器件自测试

内建的自测试）。将这些步骤转移到测试系统中去总起来看，

还是创造了更多的附加价值

为了顺利地实施这些措施，

可测试性的意义可理解为：测试工程师可以用尽可能简单的方法来检测某种元件的特性看

它能否满足预期的功能。简单地讲就是：

檢测产品是否符合技术规范的方法简单化到什么程度

编制测试程序能快到什么程度？

发现产品故障全面化到什么程度

接入测试点的方法简单化到什么程度？

为了达到良好的可测试必须考虑机械方面和电气方面的设计规程当然，要达到最佳的可测

试性需要付出一定代價，但对整个工艺流程来说它具有一系列的好处，因此是产品能否成功

、为什么要发展测试友好技术

若某一产品在上一测试点不能测试

那么这个问题就被简单地推移到直一个测试点上

如果产品缺陷在生产测试中不能发现，

则此缺陷的识别与诊断也会简单地被推移到功能囷系

今天人们试图尽可能提前发现缺陷

它的好处不仅仅是成本低，

某些制造缺陷在功能测试中可能根本检查不出来

例如某些要预先装軟件或编程

的元件，就存在这样的问题（如快闪存储器或

这些元件的编程必须在研制开发阶段就计划好，

而测试系统也必须掌握这种编

測试友好的电路设计要费一些钱

测试困难的电路设计费的钱会更多。

测试成本随着测试级数的增加而加大；

从在线测试到功能测试以及系统测试

如果跳过其中一项测试，

一般的规则是每增加一级测试费用的